月刊EMC
最新号

電磁環境工学情報誌 月刊EMC

月刊EMC2017年6月号(No.350)最新号

【特集①】コンポーネントからシステムレベルの
ESD対策設計、耐性試験と規格動向

システムレベルESD 試験と対策部品を用いたESD 対策
/徳永 英晃氏(パナソニック(株))
  1. はじめに
  2. デバイスレベルESD試験とシステムレベルESD試験
  3. システムレベルESD試験に対する耐性確保(SEED設計)
  4. おわりに
システムESD 試験への対応とイミュニティー試験を考慮した半導体の保護回路設計
/奥島 基嗣氏(ルネサスエレクトロニクス(株))
  1. はじめに
  2. コンポーネントレベル(半導体)ESD設計
  3. 半導体保護回路設計へ影響を与えるEMC耐性要求
  4. システムESD設計要求が半導体ESD設計に与える影響
  5. イミュニティー試験要求が半導体ESD設計に与える影響
  6. 今後の半導体保護回路設計
システムレベルESD 規格の今後と課題
/石田 武志氏((株)ノイズ研究所)
  1. はじめに
  2. ESD規格の経緯
  3. 現在の審議状況
  4. おわりに

【特集②】熟練者に学ぶEMC 設計・評価技術
-基礎から実践まで-

近傍電磁界プローブを用いたEMC 計測評価技術
/船戸 裕樹氏((株)日立製作所)
  1. はじめに
  2. 近傍電磁界計測
  3. 近傍界計測の応用
  4. まとめ
ミックスド・ドメイン・オシロスコープを活用した最新EMI 計測技術
/鹿取 俊介氏(テクトロニクスRF アプリケーション・エンジニア)
  1. はじめに
  2. 高速・広帯域化するノイズ
  3. スペクトラム・アナライザの取込方式と、取込タイミングの違い
  4. スペクトラム・アナライザを用いたノイズのタイミング解析
  5. ミックスド・ドメイン・オシロスコープを用いたノイズの時間相関測定
  6. おわりに

実践講座

  • 対策事例に学ぶパワーエレクトロニクスのノイズ対策③
    規格試験適合のための手法III(イミュニティ試験編)
    /碓氷 哲之氏(双信電機(株))
  • EMC測定・試験のポイント-2.EMC測定・試験は何故必要か
    規制の法的枠組みと動向④
    JAB によるEMC 試験所の適合性評価
    /佐々波 浩一氏((公財)日本適合性認定協会認定センター)
  • 製品の信頼性を高めるLSI のEMC 設計⑤
    現象別半導体集積回路の電磁両立性検証(1)
    /稲垣 亮介氏(ローム(株))
  • 新・回路レベルのEMC 設計【最終回】
    私のEMC 対処法
    学問的アプローチの弱点を突く、その対極にある解決方法
    /瀬戸 信二氏(日本オートマティックコントロール(株))

New&Now 規格・規制情報

  • 安心・安全を実現する最適な電磁環境の設計とルール
    国内外におけるEMC 規格・規制の基礎知識
    /正岡 賢治氏((一社)KEC関西電子工業振興センター)

新生産財ニュース

  • 製造現場へのデバイス情報
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