月刊EMC

電磁環境工学情報誌　月刊EMC

月刊EMC2017年6月号（No.350）

月刊EMC No.350
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月刊EMC読者アンケート

関連書籍

【特集①】コンポーネントからシステムレベルの
ESD対策設計、耐性試験と規格動向

システムレベルESD 試験と対策部品を用いたESD 対策
／徳永 英晃氏（パナソニック（株））
  1. はじめに
  2. デバイスレベルESD試験とシステムレベルESD試験
  3. システムレベルESD試験に対する耐性確保（SEED設計）
  4. おわりに
システムESD 試験への対応とイミュニティー試験を考慮した半導体の保護回路設計
／奥島 基嗣氏（ルネサスエレクトロニクス（株））
  1. はじめに
  2. コンポーネントレベル（半導体）ESD設計
  3. 半導体保護回路設計へ影響を与えるEMC耐性要求
  4. システムESD設計要求が半導体ESD設計に与える影響
  5. イミュニティー試験要求が半導体ESD設計に与える影響
  6. 今後の半導体保護回路設計
システムレベルESD 規格の今後と課題
／石田 武志氏（（株）ノイズ研究所）
  1. はじめに
  2. ESD規格の経緯
  3. 現在の審議状況
  4. おわりに

【特集②】熟練者に学ぶEMC 設計・評価技術
－基礎から実践まで－

近傍電磁界プローブを用いたEMC 計測評価技術
／船戸 裕樹氏（（株）日立製作所）
  1. はじめに
  2. 近傍電磁界計測
  3. 近傍界計測の応用
  4. まとめ
ミックスド・ドメイン・オシロスコープを活用した最新EMI 計測技術
／鹿取 俊介氏（テクトロニクスRF アプリケーション・エンジニア）
  1. はじめに
  2. 高速・広帯域化するノイズ
  3. スペクトラム・アナライザの取込方式と、取込タイミングの違い
  4. スペクトラム・アナライザを用いたノイズのタイミング解析
  5. ミックスド・ドメイン・オシロスコープを用いたノイズの時間相関測定
  6. おわりに

実践講座

  • 対策事例に学ぶパワーエレクトロニクスのノイズ対策③
    規格試験適合のための手法III（イミュニティ試験編）
    ／碓氷 哲之氏（双信電機（株））
  • EMC測定・試験のポイント－2.EMC測定・試験は何故必要か
    規制の法的枠組みと動向④
    JAB によるEMC 試験所の適合性評価
    ／佐々波 浩一氏（（公財）日本適合性認定協会認定センター）
  • 製品の信頼性を高めるLSI のEMC 設計⑤
    現象別半導体集積回路の電磁両立性検証（1）
    ／稲垣 亮介氏（ローム（株））
  • 新・回路レベルのEMC 設計【最終回】
    私のEMC 対処法
    学問的アプローチの弱点を突く、その対極にある解決方法
    ／瀬戸 信二氏（日本オートマティックコントロール（株））

New&Now 規格・規制情報

  • 安心・安全を実現する最適な電磁環境の設計とルール
    国内外におけるEMC 規格・規制の基礎知識
    ／正岡 賢治氏（（一社）KEC関西電子工業振興センター）

新生産財ニュース

  • 製造現場へのデバイス情報
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